設備特性
1、電性量測電路采用Kelvin法，可避免接觸電阻和線阻造成之測量誤差；
2、完善的報表打印和數據統計系統；
3、全系列LED測試系統解決方案，采用PC-based裝置，提供快速靈活之自動測試和人機交互接口；
4、用戶可任意定義之電壓電流源值，之測試項目之上限與下限，之任意安排量測值之輸出BIN位；
5、快捷的分級設定功能。
6、可分析藍光波長與黃色熒光粉合成之白光的坐標位置
7、可量測波長λ=200~1100nm，光強度Iv=0~100000mcd CIE視函數探測器；
8、采用獨特的白光測量方法和光學器件，更先進的白光分色技術；
9、可測試共陰或共陽之任何封裝，單腳單晶、雙腳雙晶、三腳雙晶之Wafer、S或Lamp封裝，可測試紅外發射管和接收管；
10、量測標準可追溯至CIE127-1997、Instrument Systems、NIST和Keithley；
11、可選擇積分球、視覺函數光探測器或分光光譜儀等光學量測感應裝置；
12、實時CIE坐標圖及落點顯示；
13、16位恒流恒壓源和數位量測電表之分辨率；
